El DSO-LCR500 combine les avantages d'un oscilloscope numérique et d'un testeur de composants multifonctionnel dans un boîtier compact et de haute qualité. Grâce à l'oscilloscope numérique, les bricoleurs ambitieux peuvent évaluer des signaux dépendant du temps sans avoir recours à une technologie de mesure coûteuse.
Le testeur de composants multifonctionnel permet également une détection rapide et automatique des composants. De plus, le DSO-LCR500 dispose de fonctions supplémentaires utiles telles qu'un générateur de signal, un décodeur de signal infrarouge et la mesure des diodes Zener, des capteurs DS18B20 et DHT11.
L'appareil est équipé d'une batterie rechargeable de 1 500 mAh, qui peut être facilement chargée via USB-C. Le support intégré et rabattable facilite également l'utilisation.
Caractéristiques :
Oscilloscope numérique,
Testeur de composants,
Testeur de continuité,
Générateur de signaux,
Mesure de diodes Zener,
Mesure de capteurs DS18B20,
Mesures de capteurs DHT11,
Décodeur infrarouge
Articles expédiés : JT-DSO-LCR500, guide d'utilisation, câble USB-C, 3 x clips de test, 3 x sondes de test CMS, sonde, câble clip cocodrile, adaptateur BNC
Alimentation :
Batterie au lithium de 1 500 mAh, rechargeable via USB-C
Oscilloscope :
Bande passante : 500 KHz
Sensibilité verticale : 10 mV/Div - 10 V/Div
Écran : écran couleur TFT 2,4", rétroéclairage LED, 320x240 pixels
Taux d'échantillonnage : 10 MS/s
Résistance d'entrée : 1 MΩ
Couplage : AC / DC
Plage de tension de test : 1:1 80 Vpp (-40V-40V) - 10:1 : 800Vpp (-400V - 400V)
Base de temps horizontale : 10 μs - 10s
Modes de déclenchement : Automatique, normal, simple
Types de déclenchement : front descendant, front montant
Générateur de signaux :
Onde sinusoïdale : 1 - 100 kHz, 0 - 3,3 V, 50 %
Onde carrée : 1 - 100 kHz, 3,3 V, 50 %
Onde de pouls : 1 - 100 kHz, 3,3 V, 0 - 100 %
Onde triangulaire : 1 - 100 kHz, 0 - 3,3 V, 50 %
Onde rampe : 1 - 100 kHz, 0 - 3,3 V, 0 - 100 %
Signal CC : 0 - 3,3 V
Testeur multifonction :
Mesures de transistors (HFE z10, HFE < 600) : Amplification (hFE), tension base-émetteur (Ube), courant de coupure inverse collecteur-émetteur (Iceo, Ices), diode de protection directe, chute de tension (Uf )
Mesures de diodes (chute de tension directe < 5 V) : Chute de tension directe, capacité de jonction, courant de fuite inverse
Mesures de diodes Zener (plage de test 1-2-3 : 0,01 - 4,5 V. Test K-A-A plage : 0,01-24 V) : 1-2-3 : Chute de tension directe, tension de claquage inverse, K-A-A : tension de claquage inverse
Mesures de transistors à effet de champ (JFET, IGBT, MOSFET) : JFET : Capacité de grille (Cg ), courant de drain (Id à Vgs), chute de tension directe de la diode de protection (Uf) IGBT : courant de drain (Id à Vgs), chute de tension directe de la diode de protection (Uf) MOSFET : tension d'activation (Vt), capacité de grille (Cg ), résistance drain-source (Rds), chute de tension directe de la diode de protection (Uf)
Mesures SCR et TRIAC (tension d'allumage < 5 V, courant de déclenchement de grille < 5 mA) : tension de grille
Mesures de condensateur (25 pF - 100 mF) : Capacité, facteur de perte (Vloss)
Mesures de résistance (10 μH - 1000 μH) : Valeur d'inductance, résistance DC
Mesures de batterie ( 0,01 - 4,5 V : Valeur de tension
Mesures DS18B20 : Température
Mesures DHT11 : Température et humidité
Décodage infrarouge (protocole NEC) : Affichage du code utilisateur et des données, affichage de la forme d'onde infrarouge
Continuité : test de continuité, tensions jusqu'à 40 V