El DSO-LCR500 combina as vantagens de um osciloscópio digital e um testador de componentes multifuncional em um case compacto e de alta qualidade. Com a ajuda do osciloscópio digital, especialistas ambiciosos podem avaliar sinais dependentes do tempo sem ter que recorrer a tecnologia de medição cara.
O testador de componentes multifuncional também permite a detecção rápida e automática de componentes. Além disso, o DSO-LCR500 possui funções úteis adicionais, como gerador de sinal, decodificador de sinal infravermelho e medição de diodos Zener, sensores DS18B20 e sensores DHT11.
O dispositivo está equipado com uma bateria recarregável de 1500 mAh, que pode ser convenientemente carregada via USB-C. O suporte desdobrável integrado facilita ainda mais a operação.
Características:
Osciloscópio digital,
Testador de componentes,
Testador de continuidade,
Gerador de sinais,
Medição de diodos zener,
medição de sensores DS18B20,
Medições de sensores DHT11,
Decodificador infravermelho
Itens enviados: JT-DSO-LCR500, guia do usuário, cabo USB-C, 3 clipes de teste, 3 sondas de teste SMD, sonda, cabo de clipe cocodrile, adaptador BNC
Fonte de alimentação:
Bateria de lítio de 1500 mAh, recarregável via USB-C
Osciloscópio:
Largura de banda: 500KHz
Sensibilidade vertical: 10 mV/Div - 10 V/Div
Display: display colorido TFT de 2,4“, retroiluminação LED, 320x240 pixels
Taxa de amostragem: 10 MS/s
Resistência de entrada: 1 MΩ
Acoplamento: AC/DC
Faixa de tensão de teste: 1:1 80 Vpp (-40V-40V) - 10:1: 800Vpp (-400V - 400V)
Base de tempo horizontal: 10 μs - 10s
Modos de disparo: Automático, normal, único
Tipos de trigger: borda descendente, borda ascendente
Gerador de sinal:
Onda senoidal: 1 - 100 kHz, 0 - 3,3 V, 50%
Onda quadrada: 1 - 100 kHz, 3,3 V, 50%
Onda de pulso: 1 - 100 kHz, 3,3 V, 0 - 100%
Onda triangular: 1 - 100 kHz, 0 - 3,3 V, 50%
Onda de rampa: 1 - 100 kHz, 0 - 3,3 V, 0 - 100%
Sinal CC: 0 - 3,3 V
Testador multifuncional:
Medições de transistores (HFE z10, HFE < 600): Amplificação (hFE), tensão base-emissor (Ube), corrente de corte reversa coletor-emissor (Iceo, Ices), diodo de proteção direto, queda de tensão (Uf )
Medições de diodo (queda de tensão direta < 5 V): Queda de tensão direta, capacitância de junção, corrente de fuga reversa
Medições de diodo Zener (faixa de teste 1-2-3: 0,01 - 4,5V. Teste K-A-A faixa: 0,01-24 V): 1-2-3: Queda de tensão direta, tensão de ruptura reversa, K-A-A: tensão de ruptura reversa
Medições de transistor de efeito de campo (JFET, IGBT, MOSFET): JFET: Capacitância de porta (Cg ), corrente de dreno (Id em Vgs), queda de tensão direta do diodo de proteção (Uf) IGBT: corrente de dreno (Id em Vgs), queda de tensão direta do diodo de proteção (Uf) MOSFET: tensão de ativação (Vt), capacitância de porta (Cg ), resistência de fonte de dreno (Rds), queda de tensão direta do diodo de proteção (Uf)
Medições de SCR e TRIAC (tensão de ativação < 5 V, corrente de disparo de porta < 5 mA): tensão de porta
Medições de capacitores (25 pF - 100 mF): Capacidade, fator de perda (Vloss)
Medições de resistores (10 μH - 1000 μH): Valor de indutância, resistência DC
Medições de bateria ( 0,01 - 4,5 V: Valor de tensão
Medições DS18B20: Temperatura
Medições DHT11: Temperatura e umidade
Decodificação infravermelha (protocolo NEC): Exibe usuário e código de dados, exibe forma de onda infravermelha
Continuidade: teste de continuidade, tensões de até 40V